日本OTSUKA大塚西南代理膜测量系统nanoSAQ 多检测体纳米粒子径测量系统　nanoSAQLA nanoSAQLA和自动采样器AS50组合使用时，最多可以连续自动测量50个样品。每个样品的测量时间约为1分钟，快速高效，而且在测量过程中可以添加样品，非常适合操作简便和缩短操作时间。细胞可以使用适用于有机溶剂的玻璃一次性细胞。

日本OTSUKA大塚西南代理膜厚测量系统GS-300 带有模式匹配功能、X-Y位置精度在2um以下的系统。

日本OTSUKA大塚西南代理线扫描膜厚仪晶圆用半导体的研究开发以及生产现场中，能够在晶圆基板上的薄膜进行全表面测量的装置。 通过结合独自的分光干涉法和新开发的高精度膜厚演算处理技术，可以高速测量12英寸晶圆的面内分布。

日本OTSUKA大塚西南代理线扫描膜厚计在线型是一款能够在在线生产现场对薄膜厚度进行全幅、全长度测量的装置。 通过结合我们独自的分光干涉法和新开发的高精度膜厚计算处理技术，能够在最短0.001秒的测量间隔内对500mm宽度（单台使用时）的薄膜厚度进行测量。

日本OTSUKA大塚西南代理膜厚测定用MCPD6800是依托其标志性“瞬间多通道测光”技术打造的高性能光谱干涉式膜厚检测系统，专为半导体、显示面板、功能薄膜等行业的高精度膜厚质控场景设计，是兼顾实验室研发与工业在线监测的通用型膜厚检测产品。

日本OTSUKA大塚西南代理膜厚测定用MCPD9800是依托其标志性“瞬间多通道测光”技术打造的高性能光谱干涉式膜厚检测系统，专为半导体、显示面板、功能薄膜等行业的高精度膜厚质控场景设计，是兼顾实验室研发与工业在线监测的通用型膜厚检测产品。