日本OTSUKA大塚西南代理线扫描膜厚计在线型是一款能够在在线生产现场对薄膜厚度进行全幅、全长度测量的装置。
通过结合我们独自的分光干涉法和新开发的高精度膜厚计算处理技术，能够在最短0.001秒的测量间隔内对500mm宽度（单台使用时）的薄膜厚度进行测量。

日本OTSUKA大塚西南代理线扫描膜厚计在线型

日本OTSUKA大塚西南代理线扫描膜厚计在线型

日本OTSUKA大塚电子在线型线扫描膜厚计，是面向薄膜连续化生产场景打造的全幅面动态膜厚管控核心设备，依托大塚深耕光学干涉量测领域的技术积累，突破传统单点膜厚仪只能定点抽检的局限，实现产线全幅面膜厚的实时连续扫描监测，为锂电隔膜、光学膜、半导体晶圆、光伏背板等行业的高精度成膜工艺提供闭环数据支撑。

这款设备搭载大塚自研的多通道高速光谱检测模组，采用非接触式光学干涉原理，沿幅宽方向布置的线扫描探头可实现每秒最高数千次的光谱采集，以线阵扫描的方式同步获取整条幅宽上的膜厚分布数据，无需停机即可完成全幅面的连续检测，检测速度适配150~200m/min的高速产线运行节奏，不会对薄膜表面造成任何划伤、污染，适配超薄软膜的生产场景。设备可覆盖6μm~1300μm的宽量程检测范围，搭配不同波段的光学模组，还可向下延伸至1nm级超薄膜检测，重复精度控制在0.01%以内，即使是微米级的厚度波动也能精准捕捉。

设备采用分体式模块化设计，核心检测探头体积紧凑，可直接安装在挤出机模头下游、镀膜机腔侧、涂布机烘箱出口等关键工艺点位，无需对现有产线进行大规模改造。整机适配工业级宽温工况，搭载振动补偿与环境光抑制机制，可在高粉尘、强振动的复杂车间环境下长期稳定运行，24小时不间断生产的使用需求。系统内置可视化操作界面，可实时生成全幅面膜厚分布云图与厚度趋势曲线，自动标记厚度异常点位，同时通过LAN接口直接对接产线PLC系统，将实时膜厚数据反馈给模头自动调节机构，动态调整成膜参数，将整卷薄膜的厚度均匀性提升至±0.5%以内。