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更新时间:2026-06-30
厂商性质:代理商
访 问 量 :10
028-68749778
产品分类
| 品牌 | OTSUKA/日本大塚 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 产地类别 | 进口 | 应用领域 | 综合 |
日本OTSUKA大塚西南代理膜测量系统nanoSAQ

日本OTSUKA大塚西南代理膜测量系统nanoSAQ动态光散射(DLS)技术打造的高通量纳米颗粒分析旗舰设备,专为实验室批量样品质控、新材料研发场景设计,凭借多通道并行检测架构,突破传统单通道纳米粒度仪单次仅能测1个样品的效率瓶颈,成为纳米材料、生物医药、半导体研磨液等领域的高效检测利器。
该系统采用全新升级的非浸入式光学检测设计,检测探头无需浸入样品溶液避免了传统浸入式设备的交叉污染问题,无需反复清洗探头即可连续完成多组样品检测,大幅降低操作复杂度与样品间的相互干扰。依托多检测体并行测量架构,设备可同时支持最多5个样品的同步检测,单次全流程测量仅需约1分钟,批量样品的检测效率是传统单通道设备的5倍以上,适配实验室高通量质控的日常需求。
设备的核心性能覆盖超宽检测范围,可稳定完成0.6nm至10μm区间内的纳米颗粒粒径分析,搭配直方图分析功能,最小可精准识别0.2nm级的超微小颗粒,从低浓度的稀溶液到高浓度的不透光悬浮液,都能获得稳定可靠的检测结果,无需对样品进行反复稀释,避免稀释过程中引入的颗粒团聚、样品性质改变等误差。整机采用轻量化紧凑设计,体积小巧可直接放置在常规实验台面上,无需占用大量实验室空间,适配各类有限空间的布局需求。
系统内置多条件独立设置功能,5个并行检测通道可分别设置不同的温度、测量时长、分析模式参数,支持不同实验条件的样品同步测量,无需分批等待,大幅提升研发阶段的实验效率。广泛应用于纳米材料研发、生物医药蛋白表征、半导体CMP研磨液质控、胶体悬浮液稳定性分析等核心场景,是兼顾高精度与高通量的纳米粒度检测优选方案。