日本OTSUKA大塚西南代理嵌入式膜厚监测器 分光干涉法膜厚计 搭载高精度FFT膜厚解析引擎 通过光学光纤可以构建灵活的测量系统 可以嵌入各种制造装置 实时膜厚测量成为可能 远距离操作、多点测量 采用长寿命、高稳定性的白色LED光源

日本OTSUKA大塚西南代理膜厚监测仪SM-100高精度且便携的膜厚计 「无法立即测量的“现场”」 「不同人测量结果不同」 「测量精度差」 在测量膜厚时，是否遇到过这些问题？智能膜厚计具有以下特点，可以解决您的困扰。 ・ 可以带到生产现场的便携式设备 ・ 简单所以任何人都能用 ・ 即使是手持式也能进行高精度测量 ・ 有形状的样品也可以非破坏性地测量

日本OTSUKA大塚西南代理膜厚监测仪FE-300F是一款通过高精度的光干涉法进行膜厚测量的小型且价格低廉的膜厚计，实现了简单操作。 我们采用了将所需设备集成在主机内的多功能型结构，从而实现了稳定的数据获取。 尽管价格低廉，但通过获取绝对反射率，也能够进行光学常数的解析。

日本OTSUKA大塚线扫描膜厚计®离线型 可以检查薄膜等表面膜厚不均 可以快速且高精度地进行全面测量 膜厚测量的专门制造商所提供的充实支持 分光测量进行高精度的膜厚测量 硬件和软件均为原创设计

日本OTSUKA大塚膜厚线扫描膜厚计®在线型 采用线扫描方式实现了全面无“漏”的膜检查。 膜厚测量的专门制造商所提供的充实支持 高速・高精度地测量成为可能 采用抗晃动的光学系统 幅広的样本（在TD方向上可测量最大10米） 硬件和软件均为原创设计

日本OTSUKA大塚膜厚测定多通道分光器MCPD 这是从紫外线到近红外区域的多功能多通道分光检测器。最短5毫秒内可以进行分光光谱测量。通过标准装置的光纤，可以在不特定样品种类的情况下，对应各种测量系统。从显微分光、光源发光、透过反射测量开始，通过软件组合，还可以对应物体颜色评价、膜厚测量等。