日本OTSUKA大塚西南代理分光特性测量LCF彩色滤光片的光学特性检查和玻璃基板上的膜厚检查等，适用于FPD生产过程中的所有检查。

日本OTSUKA大塚西南代理膜测量系统nanoSAQ 多检测体纳米粒子径测量系统　nanoSAQLA nanoSAQLA和自动采样器AS50组合使用时，最多可以连续自动测量50个样品。每个样品的测量时间约为1分钟，快速高效，而且在测量过程中可以添加样品，非常适合操作简便和缩短操作时间。细胞可以使用适用于有机溶剂的玻璃一次性细胞。

日本OTSUKA大塚西南代理散射光度计DLS-6500 使用动态光散射法可以测量粒径和粒径分布（粒径、粒径分布），使用静态光散射法可以测量绝对分子量、惯性半径和第二维里系数。

日本OTSUKA大塚西南代理散射光度计DLS-8000 使用动态光散射法可以测量粒径和粒径分布（粒径、粒径分布），使用静态光散射法可以测量绝对分子量、惯性半径和第二维里系数。

日本OTSUKA大塚西南代理膜厚测量系统GS-300 带有模式匹配功能、X-Y位置精度在2um以下的系统。

日本OTSUKA大塚西南代理分光晶圆厚度计SF-3 在晶圆等的研磨抛光过程中，非接触式地对晶圆和树脂的厚度进行超高速、高精度的测量。