日本OTSUKA大塚线扫描膜厚计®离线型 可以检查薄膜等表面膜厚不均 可以快速且高精度地进行全面测量 膜厚测量的专门制造商所提供的充实支持 分光测量进行高精度的膜厚测量 硬件和软件均为原创设计

日本OTSUKA大塚膜厚线扫描膜厚计®在线型 采用线扫描方式实现了全面无“漏”的膜检查。 膜厚测量的专门制造商所提供的充实支持 高速・高精度地测量成为可能 采用抗晃动的光学系统 幅広的样本（在TD方向上可测量最大10米） 硬件和软件均为原创设计

日本OTSUKA大塚膜厚测定多通道分光器MCPD 这是从紫外线到近红外区域的多功能多通道分光检测器。最短5毫秒内可以进行分光光谱测量。通过标准装置的光纤，可以在不特定样品种类的情况下，对应各种测量系统。从显微分光、光源发光、透过反射测量开始，通过软件组合，还可以对应物体颜色评价、膜厚测量等。

日本OTSUKA大塚 嵌入式膜厚监测器

日本OTSUKA大塚智能膜厚仪 SM-100系列 「便携式手提类型」1.1公斤，轻便易携带 「高精度测量＆简单测量」最薄0.1 μm直到可以测量而无需刻度线 「多层膜也支持」可测量三层及以下的多层膜 「非破坏・非接触测量」不会伤害样品也能进行测量 「 다양한サンプルを測定」基材（玻璃・塑料）を選ばず測定可能

日本OTSUKA大塚显微分光膜厚计FE-300F系列 这是一款通过高精度的光干涉法进行膜厚测量的小型且价格低廉的膜厚计，实现了简单操作。 我们采用了将所需设备集成在主机内的多功能型结构，从而实现了稳定的数据获取。 尽管价格低廉，但通过获取绝对反射率，也能够进行光学常数的解析。