日本OTSUKA大塚西南代理分光膜厚计OPTM(オプティム)是利用显微分光进行微小区域绝对反射率测量的装置，能够实现高精度的膜厚和光学常数解析。 可以非破坏性、非接触性地测量各种薄膜、晶圆、光学材料等的涂层膜厚度或多层膜。测量时间可以达到每点1秒的高速测量。此外，还配备了即使初次使用也能轻松进行光学常数解析的软件。

日本OTSUKA大塚西南代理光度计MCPD-6800是从紫外线到近红外区域的多功能多通道分光检测器。最短5毫秒内可以进行分光光谱测量。通过标准装置的光纤，可以在不特定样品种类的情况下，对应各种测量系统。从显微分光、光源发光、透过反射测量开始，通过软件组合，还可以对应物体颜色评价、膜厚测量等。

日本OTSUKA大塚西南代理光度计MCPD-9800是从紫外线到近红外区域的多功能多通道分光检测器。最短5毫秒内可以进行分光光谱测量。通过标准装置的光纤，可以在不特定样品种类的情况下，对应各种测量系统。从显微分光、光源发光、透过反射测量开始，通过软件组合，还可以对应物体颜色评价、膜厚测量等。