日本OTSUKA大塚西南代理分光特性测量LCF彩色滤光片的光学特性检查和玻璃基板上的膜厚检查等，适用于FPD生产过程中的所有检查。

日本OTSUKA大塚西南代理散射光度计DLS-6500 使用动态光散射法可以测量粒径和粒径分布（粒径、粒径分布），使用静态光散射法可以测量绝对分子量、惯性半径和第二维里系数。

日本OTSUKA大塚西南代理散射光度计DLS-8000 使用动态光散射法可以测量粒径和粒径分布（粒径、粒径分布），使用静态光散射法可以测量绝对分子量、惯性半径和第二维里系数。

日本OTSUKA大塚西南代理分光晶圆厚度计SF-3 在晶圆等的研磨抛光过程中，非接触式地对晶圆和树脂的厚度进行超高速、高精度的测量。

日本OTSUKA大塚西南代理分光干涉式厚度计对晶圆等的研磨抛光过程进行非接触式超高速实时高精度测量。

日本OTSUKA大塚西南代理分光椭偏仪FE-5000除了能够进行高精度薄膜解析的分光椭偏测量，通过实现测量角度的自动可变机构，本设备可以应对各种类型的薄膜。除了传统的旋转检测光子法，通过设置位相差板的自动装卸机构，提高了测量精度。