日本OTSUKA大塚膜厚测定多通道分光器MCPD
这是从紫外线到近红外区域的多功能多通道分光检测器。最短5毫秒内可以进行分光光谱测量。通过标准装置的光纤，可以在不特定样品种类的情况下，对应各种测量系统。从显微分光、光源发光、透过反射测量开始，通过软件组合，还可以对应物体颜色评价、膜厚测量等。

日本OTSUKA大塚膜厚测定多通道分光器MCPD

日本OTSUKA大塚膜厚测定多通道分光器MCPD

日本OTSUKA大塚电子推出的MCPD系列多通道分光器，是一款专为膜厚测量及光学特性分析设计的高性能仪器。该系列凭借其高速、高精度、高动态范围及低杂散光等特性，在半导体、显示面板、光学材料等领域得到广泛应用。

MCPD系列的核心竞争力在于其突破性的光学设计。它采用闪光全息照相型光栅分光系统，配合电子冷却型CCD或InGaAs图像传感器，实现了从紫外到近红外波段（220nm-1600nm）的高速光谱测量，最短曝光时间仅5毫秒。这一特性使其能够捕捉快速变化的光谱信号，满足生产线上的即时检测需求。同时，该系列具备动态范围（可达1,000,000:1以上），能在一次测量中同时捕获强和极弱的光信号细节，无需多次曝光即可准确分析从高亮度光源到微弱荧光的各种样本。

在膜厚测量方面，MCPD系列表现出色。它支持多层膜解析，最多可分析50层薄膜结构，适用于半导体晶圆上的氧化膜、氮化膜、光阻膜等薄膜的厚度测量。此外，该系列还具备物体颜色测量、光源颜色评估（色度、辉度、照度）、荧光测量等多种功能，满足不同应用场景的需求。

MCPD系列还注重用户体验和便捷性。它采用小巧轻量化设计，体积比旧机型减少约60%，便于集成到各种复杂的测量系统中。同时，该系列配备USB和LAN通信接口，支持远程测量和自动化检测，为集成应用提供了便利。用户还可以通过专用软件进行数据采集、存储和处理，实现全面的光谱分析功能。