
产品型号:
更新时间:2026-06-30
厂商性质:代理商
访 问 量 :9
028-68749778
产品分类
| 品牌 | OTSUKA/日本大塚 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 产地类别 | 进口 | 应用领域 | 综合 |
日本OTSUKA大塚西南代理膜厚监测仪SM-100

日本OTSUKA大塚西南代理膜厚监测仪SM-100
日本OTSUKA大塚电子SM-100系列手持式膜厚监测仪,是专为解决传统实验室膜厚仪无法适配现场检测痛点打造的级产品,凭借“便携+高精度+无损快测"三大核心优势,打破了精密膜厚检测的场地限制,成为工业现场巡检、户外抽检、大尺寸工件检测场景的设备。
整机仅重1.1kg,机身尺寸为138×198×61mm,单手即可轻松握持,无需外接复杂支架与连接线,内置长效锂电池可支持连续4小时以上的现场作业,车间高空巡检、仓库来料随机抽检、户外工程现场检测都能灵活适配,告别传统台式设备搬运繁琐、部署耗时的问题。设备搭载优良的反射光谱干涉检测技术,无需提前制作不同基材的校准曲线,开机即可直接测量,新人经过简单指引就能快速上手,避免人为操作带来的检测误差。
SM-100系列分为两个细分型号覆盖不同需求:标准款SM-100S支持1~50μm单层膜测量,专业款SM-100P可覆盖0.1~100μm单层膜,同时支持最多3层多层膜同步解析,测量重复性可达0.01μm(SiO₂ 1μm样品),检测精度媲美实验室专业级设备,单次测量仅需1秒,单日可完成数百个样品检测,巡检效率是传统台式椭偏仪的10倍。设备标配直径≤Φ1mm的标准探头,还可选配Φ6mm笔型探头,可深入镜片边缘、手机中框台阶、包装封口等狭窄区域完成检测,非接触式的测量设计不会划伤、污染样品,尤其适配高价值精密元器件的检测需求。
机身防护等级达IP30/IK06,防尘抗冲击可适配复杂工业环境,支持U盘直接导出CSV格式检测数据,配套分析软件可自动完成SPC统计与CPK计算,轻松满足IQC/OQC环节的电子记录与数据追溯要求。广泛应用于半导体晶圆镀膜、光学镜片AR膜、食品包装阻隔涂层、新能源光伏薄膜、医疗器械功能涂层等多个核心行业。