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日本OTSUKA大塚西南代理散射光度计DLS-8000
产品简介:

日本OTSUKA大塚西南代理散射光度计DLS-8000
使用动态光散射法可以测量粒径和粒径分布(粒径、粒径分布),使用静态光散射法可以测量绝对分子量、惯性半径和第二维里系数。

产品型号:

更新时间:2026-06-30

厂商性质:代理商

访 问 量 :13

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产品介绍
品牌OTSUKA/日本大塚价格区间面议
产地类别进口应用领域综合

日本OTSUKA大塚西南代理散射光度计DLS-8000

日本OTSUKA大塚西南代理散射光度计DLS-8000

日本OTSUKA大塚西南代理散射光度计DLS-8000

日本OTSUKA大塚电子DLS-8000系列散射光度计,是纳米与界面化学领域的旗舰级全能分析设备,依托品牌早在2000年实现商业化的背向散射技术,突破传统动态光散射设备的应用局限,成为高浓度不透光样品粒径分析的方案。

这款设备将探测光角度设置在160°至180°的背向区间,可有效屏蔽样品深层的多重散射干扰,无需对高浓度样品进行反复稀释,直接在原液状态下完成精准粒径分析,避免稀释过程引入的样品性质改变与操作误差。系列内细分多个配置版本:基础款DLS-8000HL/HH适配常规实验室通用场景,升级款DLS-8000DL/DH可搭配φ5微型电池,仅需50μl及以上的微量样品即可完成测量,大幅降低珍贵样品的消耗量;搭配φ30专用电池时,可在低角度测量分子量或极小颗粒时有效抑制杂散光,进一步提升弱散射样品的检测精度。

设备搭载动态+静态光散射双模式同步分析能力,在完成1nm至数μm范围的颗粒尺寸、粒径分布检测的同时,可精准获取绝对分子量(覆盖3×10²至2×10⁷区间)、回转半径、第二维里系数等关键热力学参数,实现一次进样输出多维度核心数据。还可按需选配偏振元件,通过测量散射强度的偏振分量,解析样品的结构各向异性信息;搭配DRM-3000差示折射率模块,可直接完成dn/dc关键参数测量,无需额外外接设备。

全系列支持氦氖激光器、固态激光器、双激光器多种光源选型,搭配浸没式光学系统,对弱散射纳米级粒子也能实现高精度测量。广泛覆盖蛋白质、核酸、合成聚合物、胶体、半导体研磨液乃至凝胶态物质的分析场景,是生物医药、新材料、半导体制造等行业的核心表征设备。

测定项目
粒子径・粒子径分布



 1.4 nm ~ 7000 nm (固体激光器规格)


 3 纳米 ~ 7000 纳米 (He-Ne规格)


并进扩散系数 2×10-6 ~ 2×10-9 厘米2-1
重量平均分子量 3×102~ 2×107
惯性半径 20 ~ 1000 纳米
第二比尔系数 -1 ~ 20×10-4摩尔・厘米3・克-2


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