日本MITUTOYO二次元彩色测量仪QUICK IMAGE搭载2000万像素CMOS传感器与RGB三色LED环形光源，实现±1μm/m的二维尺寸测量精度。其智能对焦系统可在3秒内完成20-200mm变倍范围内的自动聚焦，配合色彩分析算法，精准识别工件表面划痕、色差等缺陷。标准测量范围300×200mm，支持CAD图纸对比和SPC数据分析，特别适用于电子接插件、印刷电路板等彩色工件的快速批量检测

日本MITUTOYO微细形状测定系统 UMAP是集成共聚焦显微镜与白光干涉技术的纳米计量平台，采用多传感器融合架构实现0.001μm~10mm跨尺度测量。其革命性的自适应光学补偿模块可消除环境振动影响，在±0.5℃温变条件下仍保持0.005μm重复性精度。标配智能三维重构软件，支持IC封装凸点、微流控芯片等复杂微结构的自动特征提取与GD&T分析。

日本MITUTOYO微细形状扫描探针图像测量机采用接触式探针与光学显微成像融合技术，实现0.01μm级三维形貌重构。其智能压力控制探针系统可自动调节5-500μN测量力，适用于半导体微结构、MEMS器件等脆弱样品的无损检测。搭配高速激光位移传感器，同步完成表面粗糙度（Ra 0.01-10μm）与微观尺寸的复合测量。

日本MITUTOYO 大型CNC画像测量机 QV ACCEL是面向大批量检测的智能型CNC影像测量系统，搭载高刚性龙门结构与直线电机驱动，实现1000×800×600mm大行程下±1.5μm/m定位精度。其加速控制算法使测量速度提升40%，配合AI视觉引导系统可自动完成复杂轮廓的批量检测。

日本MITUTOYO 白光干涉仪QUICK WLI Pro系列是融合白光干涉技术与影像测量的复合系统，采用频域分析算法实现0.1nm垂直分辨率，专用于超精密表面形貌检测。其创新性的双模式探头可在同一坐标系下完成2D尺寸测量与3D粗糙度分析，支持台阶高度、薄膜厚度等纳米级参数测量。Pro系列升级环境振动补偿系统，在车间环境下仍保持±0.5nm重复精度，配合智能光强调节模块，可稳定测量镜面、哑光等。

日本MITUTOYO QVH1 HYPER 302/404/606 Pro是新一代复合型高精度影像测量系统，搭载纳米级闭环光栅尺与主动温控平台，实现±0.1μm重复精度（302机型）。全系标配STREAM无停顿扫描技术，通过XY轴与频闪照明同步，提升30%测量效率。专业版集成非接触式色差传感器，支持金属、陶瓷等多材质3D形貌分析，并配备AI驱动的实时工艺偏差预警模块。