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日本HIOKI日置 局部放电检测仪ST4200
产品简介:

日本HIOKI日置 局部放电检测仪ST4200
● 双模式局部放电检测:交流局部放电(交流PD)和脉冲局部放电(脉冲PD)
● 采用高频 CT(电流互感器),实现抗干扰能力强的局部放电检测
● 搭配使用SW2001,在复合检测系统中也能实现稳定的局部放电检测

产品型号:

更新时间:2026-03-07

厂商性质:代理商

访 问 量 :4

服务热线

028-68749778

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产品介绍
品牌HIOKI/日本日置产地类别进口
应用领域综合

日本HIOKI日置 局部放电检测仪ST4200

日本HIOKI日置 局部放电检测仪ST4200

日本HIOKI日置 局部放电检测仪ST4200

检测方式

基于检测阻抗和带通滤波器的放电电荷量测量方法

符合IEC 60270的检测标准

测试频率范围
(施加电压)
45 Hz ~ 1.1 kHz
电荷量测量范围
(Q)
10 pC ≦ Q ≦ 500 pC(被测物静电电容 C:200 pF ≦ C < 2 nF)
10 pC ≦ Q ≦ 2500 pC(被测物静电电容C:2 nF ≦ C ≦ 10 nF)
测量项目

【通常模式】

重复发生的PD强度(Q max),PD脉冲发生数(m,m+,m-),PD脉冲发生率(n),电压有效值(U rms),电压波高值(Up+,Up-),电压峰峰值(Upp),平均放电电流(I),放电功率(P),二次率(D),PD脉冲的表观电荷(q),PD脉冲相位角(φ)

【PDIV模式】(在通常模式的值中追加下述值)

PD起始电压(Ui)、PD熄灭电压(Ue)


脉冲PD测量

检测方式

基于CT和数字滤波器的放电电流检测

符合IEC 61934 Edition 2.0的检测方法

采样速度200 MS/s
测量项目【通常模式】
PD峰值放电量(Qpk)、脉冲序列中的PD发生数(m)
【PDIV模式】(在通常模式的值中追加下述值)
PD发生起始电压(PDIV),重复PD发生起始电压(RPDIV),重复PD熄灭电压(RPDEV),PD熄灭电压(PDEV),重复PD峰值放电量(RQpk)


高压发生源控制

控制内容作为局部放电的高压发生源,会用到绝缘耐压测试仪、脉冲线圈测试仪去联动控制
对应仪器
(2025年2月为止)
自动绝缘/耐压测试仪3153、脉冲线圈测试仪ST4030、ST4030A等
测量项目【通常模式】
PD峰值放电量(Qpk)、脉冲序列中的PD发生数(m)
【PDIV模式】(在通常模式的值中追加下述值)
PD发生起始电压(PDIV),重复PD发生起始电压(RPDIV),重复PD熄灭电压(RPDEV),PD熄灭电压(PDEV),重复PD峰值放电量(RQpk)


交流PD,脉冲PD通用测量

测量模式普通模式:施加一定电压,进行单次或连续测量
PDIV模式:根据标准的要求,在改变施加电压的同时进行测量
功能判定功能,图表显示功能(交流PD:电压波形、PD脉冲监视器/脉冲PD:电流波形、PD脉冲监视器)
外部存储设备SD 存储卡、U盘、SSD
※请务必使用本公司的选件。
放射性无线频率50 pC以下(在10 V/m时)
电磁场的影响50 pC以下(在10 V时)
传导性无线频率电磁场的影响50 pC以下(在10 V时)
叠加到电源上的脉冲干扰的影响50 pC以下(1kV,叠加脉宽50 ns的脉冲干扰时)
接口LAN, USB, RS-232C(请使用市售USB串行转换线), EXT. I/O, MONITOR输出
电源额定电源电压:AC 100 V~240 V, 额定功率:300 VA
尺寸·体积约353(W)×约235(H)×约154.8(D) mm(不含突起物), 约7.3 kg(安装U8332时), 约7.1 kg(未安装U8332时)
附件电源线 × 1, 启动指南 × 1, 使用注意事项 × 1



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