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日本探头 jp-probe 柔性盒式双晶垂直探头
产品简介:

日本探头 jp-probe 柔性盒式双晶垂直探头专为复杂曲面及精密工业检测设计,融合了柔性基底、双晶片分离技术及盒式结构三大核心优势,成为航空航天、汽车制造、电子封装等领域无损检测的理想工具。

产品型号:

更新时间:2026-01-16

厂商性质:代理商

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产品介绍
品牌jp-probe/探头产地类别进口
应用领域综合

日本探头 jp-probe 柔性盒式双晶垂直探头

日本探头 jp-probe 柔性盒式双晶垂直探头


日本探头 jp-probe 柔性盒式双晶垂直探头

日本探头JP-Probe柔性盒式双晶垂直探头:曲面检测与高精度探伤的创新解决方案‌

日本探头株式会社(Japan Probe Co., Ltd)推出的柔性盒式双晶垂直探头,专为复杂曲面及精密工业检测设计,融合了柔性基底、双晶片分离技术及盒式结构三大核心优势,成为航空航天、汽车制造、电子封装等领域无损检测的理想工具。

柔性基底:曲面适配的突破‌

探头采用高弹性聚合物基底,可弯曲贴合曲率半径≥5mm的工件表面,如航空发动机叶片、汽车曲轴等复杂结构。其弯曲角度范围达±30°,确保超声波垂直入射,避免因角度偏差导致的检测盲区。这一特性突破了传统刚性探头对平面或规则曲面的依赖,显著提升了曲面检测的覆盖率和准确性。

双晶片分离技术:信噪比与灵敏度的双重提升‌

探头内置发射与接收两个独立压电晶片,通过隔声层实现物理隔离。发射晶片产生高频超声波,经延迟块调整后进入被测物体;接收晶片则捕获反射信号,双晶片设计有效减少了自发噪声干扰,信噪比(SNR)较单晶探头提升40%以上。此外,延迟块可消除近表面检测盲区(≤1mm),尤其适用于薄壁件(如0.2mm金属箔)及近表面微裂纹的精准定位。

盒式结构:稳定性与耐用性的保障‌

探头封装于耐磨盒式外壳中,内部填充硅胶减震层,可隔离机械振动与电磁干扰,确保在恶劣工业环境中稳定工作。其工作温度范围覆盖-40℃至200℃,支持高温材料(如发动机部件)及低温环境(如液化天然气储罐)的在线检测。此外,盒式设计便于快速更换与维护,降低了长期使用成本。

典型应用场景‌

航空航天‌:检测涡轮叶片涂层脱落、机翼蒙皮疲劳裂纹,确保飞行安全。

汽车制造‌:扫查曲轴、连杆等锻件的内部缺陷,预防断裂风险。

电子封装‌:评估PCB板焊点虚焊、陶瓷电容分层等微观缺陷,提升产品可靠性。

能源领域‌:监测核电设备传热管腐蚀、风电齿轮箱磨损,延长设备寿命。

技术荣誉与市场认可‌

该探头已通过JAXA(日本宇宙航空研究开发机构)认证,用于碳纤维复合材料(CFRP)的航天级检测。此外,日本探头株式会社凭借此技术获2018年日本音响学会“技术开发奖"及2019年“300个振兴中小企业"奖项,彰显其行业地位。日本探头 jp-probe 柔性盒式双晶垂直探头日本探头 jp-probe 柔性盒式双晶垂直探头

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