东京精密 三坐标测量机XYZAX SVF NEX是东京精密推出的新一代非接触式光学扫描三坐标测量机，依托品牌在精密光学领域的深厚技术积累，将高精度三坐标定位与高速光学扫描结合，解决了传统接触式测量难以应对的软质工件、薄壁零件、复杂自由曲面的检测痛点，广泛应用于逆向工程、模具开发、医疗器械、消费电子、3D打印等领域，是精密检测领域的代表性光学测量设备。

东京精密 三坐标测量机XYZAX SVF NEX

东京精密 三坐标测量机XYZAX SVF NEX

XYZAX SVF NEX是东京精密推出的新一代非接触式光学扫描三坐标测量机，依托品牌在精密光学领域的深厚技术积累，将高精度三坐标定位与高速光学扫描结合，解决了传统接触式测量难以应对的软质工件、薄壁零件、复杂自由曲面的检测痛点，广泛应用于逆向工程、模具开发、医疗器械、消费电子、3D打印等领域，是精密检测领域的代表性光学测量设备。

SVF NEX的核心优势在于非接触测量的高精度与高效率，设备搭载东京精密自研的高分辨率线激光扫描头，采用蓝色激光技术相比传统红色激光，反光更少、边缘识别更精准，可适配黑色、透明、高反光等多种复杂材质工件的扫描，单帧扫描点云密度可达每毫米100个点，扫描速度可达每秒10万个测量点，相比接触式测量效率提升数十倍，能够快速获取复杂工件完整的三维点云数据。设备保留了高精度机械定位结构，全花岗岩底座与空气轴承导向保证了机械定位精度，结合全局校准算法，整体测量精度可达(2.0+L/200)μm，在非接触测量领域达到顶级精度水平。

在功能适配层面，SVF NEX支持接触式与非接触式双模测量，可根据工件特征灵活切换探头：遇到刚性工件的简单尺寸检测，可切换接触式测头完成精准尺寸测量；遇到复杂自由曲面、软质工件、薄壁易碎零件，直接切换光学扫描头完成全形貌扫描，一台设备即可覆盖多类检测需求，大幅降低企业采购成本。设备测量范围覆盖500×700×500mm至1000×1500×600mm，可适配从小型电子零件到中型模具工件的扫描检测需求，支持大范围点云自动拼接，无需多次移动工件即可完成全尺寸扫描。

操作体验上，SVF NEX搭载东京精密自研的三维扫描测量软件，支持自动点云降噪、网格重构、CAD模型比对，可一键生成偏差色谱图，直观展示工件形面偏差，同时支持标准STL等三维数据输出，可直接对接逆向设计、3D打印等下游工序，操作逻辑直观，即使是初次使用光学测量的人员也能快速上手。设备对安装环境要求较低，常规计量室即可部署，不需要特殊光学环境，降低了使用门槛。

作为东京精密光学三坐标的旗舰机型，XYZAX SVF NEX延续了品牌一贯的精密品质，兼顾高精度、高效率与多场景适配，为复杂工件检测与逆向工程提供了完整的解决方案，帮助制造企业提升研发与检测效率，推动精密加工行业向更高精度方向发展。