日本AITEC艾泰克高亮度面照明 LMG 系列采用多层光学扩散技术，实现‌超均匀照明‌（均匀度＞95%）与‌10万Lx级高亮度‌，适用于反光材质、曲面工件的缺陷识别。其模块化设计支持多光源拼接（最大1m×1m），搭配智能温控系统，可连续工作48小时不衰减，广泛应用于3C电子、半导体、汽车零部件等行业的‌外观质检、尺寸测量‌等场景。

日本AITEC艾泰克高亮度面照明 LMG 系列

日本AITEC艾泰克高亮度面照明 LMG 系列

一、产品定位与技术突破

LMG系列是日本AITEC公司针对工业视觉检测领域研发的第四代LED面光源系统。该产品通过三项核心技术创新解决了传统光源的痛点：

1. 光学性能突破：采用"多层微透镜阵列+纳米扩散膜"复合光学结构，在100×120mm标准发光面上实现140,000Lx照度与95%均匀性，较上一代产品亮度提升40%且边缘衰减降低至5%以内（实测数据来源：AITEC-2024技术报告）。

2. 热管理革新：创新的"鳍片式铜基板+石墨烯导热"架构，使LMG150x180NW型号在27W满负荷运行时，表面温度控制在45℃以下（环境温度25℃条件下）。

3. 系统兼容性：标配LPDC1系列智能控制器，支持0-10V/PWM双模调光，响应时间＜1ms，可无缝接入Halcon、VisionPro等主流视觉软件。

二、典型应用场景分析

（数据基于2024年客户案例统计）

• 3C电子行业：在智能手机中框检测中，LMG100x120NW型号成功将划痕识别率从82%提升至99.7%（某日系摄像头模组厂商数据）

• 半导体封装：配合红外版本（LMG-IR850）实现BGA焊球三维检测，误判率降低至0.05pcs/千颗

• 医药包装：用于西林瓶液位检测，通过FDA 21 CFR Part 11合规认证

三、技术参数详解

以主力型号LMG100x120NW为例：

参数项技术指标测试标准发光面积100×120±0.2mmJIS B 7021色温6000K±300KCIE 15:2004功耗12W@24VDCIEC 62301MTBF50,000小时（L70标准）JEDEC JESD22防护等级IP54（防尘防溅水）IEC 60529

四、服务支持体系

1. 定制化服务：支持发光面尺寸（50×60mm至300×300mm）、波长（365nm-950nm）、控制接口（RS485/EtherCAT）等23项参数定制

2. 本地化支持：在中国苏州、深圳设有备件仓库，提供48小时应急响应服务

3. 验证服务：可申请免费试样并提供《光源匹配分析报告》（含照度分布图、光谱分析等数据）