日本otsuka大塚电子株式会社【NEW】新品光波动场三次元显微镜MINUK

光波动场三次元显微镜MINUKMINUK可评价nｍ级的透明的异物・缺陷，一次拍照即可瞬时获得深度方向的信息，可非破坏・非接触・非侵入的进行测量。且无需对焦，可在任意的面进行高速扫描,轻松决定测量位置特点可评价nｍ级的透明的异物・缺陷一次拍照即可瞬时获得深度方向的信息无需对焦，可高速测量可非破坏・非接触・非侵入的测量可在任意的面进行高速扫描,轻松决定测量位置规格分辨率x,y691nm（一次拍照）、488nm（合成）视野x,y700×700μm分辨率z10nm（相位差）视野z&p...

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日本otsuka大塚电子【New】RETS-100nx相位差测量装置

相位差测量装置RETS-100nxNew产品信息特点使用有的光谱仪实现高精度测量精度高的原因●使用有的高性能多通道光谱仪（型号：MCPD）对光谱进行解析●可获取较多的透过率信息实现高精度测量(获得的透射率信息约为500波长，是其他公司产品的约50倍）。超高相位差测量-超双折射薄膜可高速、高精度测量轴角度补正功能-即使样品放置有偏离，也可轻松、再现性良好的进行测量便捷的软件-极大缩短测量时间与处理时间，操作性大幅UP产品规格测量项目（薄膜、光学材料）相位差（波长分散）、慢轴、R...

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