东京精密非接触表面粗糙度测量机Opt-scope是东京精密推出的新一代非接触式表面粗糙度测量设备，依托品牌在精密光学与表面测量领域的技术积累，解决了传统接触式测量易划伤软质工件、无法测量微小复杂结构的痛点，实现了无损伤、高效率的表面质量检测，广泛应用于精密光学、半导体、医疗器械、消费电子、新材料研发等领域，是非接触表面测量领域的产品。

东京精密非接触表面粗糙度测量机Opt-scope

东京精密非接触表面粗糙度测量机Opt-scope

Opt-scope是东京精密推出的新一代非接触式表面粗糙度测量设备，依托品牌在精密光学与表面测量领域的技术积累，解决了传统接触式测量易划伤软质工件、无法测量微小复杂结构的痛点，实现了无损伤、高效率的表面质量检测，广泛应用于精密光学、半导体、医疗器械、消费电子、新材料研发等领域，是非接触表面测量领域的产品。

Opt-scope的核心优势在于非接触测量的高精度与适应性，设备采用共焦色差光学传感技术，相比传统激光测量聚焦精度更高，垂直方向分辨率可达0.5nm，可精准捕捉纳米级的表面微小起伏，粗糙度测量范围覆盖0.001μm到100μm，既可以满足超光滑光学镜片、半导体晶圆的低粗糙度检测，也能适配多孔材料、精细结构的表面分析。测量过程无接触，不会对被测工件表面造成划伤、形变，适配软质材料、超薄工件、光学镀膜等对接触压力敏感的工件检测，*传统接触式测量的应用空白。

在检测效率与适配性层面，Opt-scope支持大面积快速扫描，搭配高精度电动移动平台，X/Y轴测量行程可覆盖200mm×200mm，可一次性完成大尺寸工件全域表面粗糙度检测，也可针对指定区域部高精度扫描，扫描速度相比传统非接触测量提升2倍以上，适配批量生产的快速抽检需求。设备支持任意位置单点测量、区域面扫描、线轮廓扫描等多种测量模式，可生成三维表面形貌图与二维粗糙度分布曲线，不仅能输出常规粗糙度参数，还能分析表面纹理方向、孔隙率、颗粒尺寸等更多表面特征，为研发分析提供更全面的数据支撑。

操作体验上，Opt-scope搭载东京精密可视化光学测量软件，操作界面直观，支持一键对焦、一键测量，自动生成包含三维形貌图、参数报告的标准化检测报告，不需要专业计量知识即可快速上手，新人经过简单培训就能独立操作。设备支持CAD数据导入，可比对设计形貌与实际加工的偏差，适配精密加工的质量把控需求；对安装环境要求低，常规计量室即可部署，不需要特殊光学暗房，使用门槛低。

作为东京精密非接触表面测量的核心产品，Opt-scope延续了品牌一贯的精密稳定品质，兼顾高精度、无损伤与高效率，为软质工件、精密结构、超光滑表面的检测提供了完整解决方案，帮助半导体、光学、新材料等领域提升表面质量检测能力，推动精密加工行业的技术发展。